| Номер | Название | Дата введения | Статус |
| ГОСТ 24459-80 | Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры | 01.01.1982 | действующий |
| Название (англ.): Intergated microcircuits for storages and its elements. Basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств: оперативные запоминающие устройства; ассоциативные запоминающие устройства; запоминающие устройства на приборах с зарядной связью и цилиндрических магнитных доменах; постоянные запоминающие устройства с многократным электрическим программированием; усилители воспроизведения; формирователи разрядного и адресного токов | |||
| ГОСТ 24460-80 | Микросхемы интегральные цифровых устройств. Основные параметры | 01.01.1982 | действующий |
| Название (англ.): Intergated microcircuits for digital devices. Basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы цифровых устройств: регистры, счетчики (делители частоты), дешифраторы, шифраторы, сумматоры, полусумматоры, арифметическо-логические устройства, а также усилители индикации и схемы сопряжения с магистралью и устанавливает ряды и допускаемые сочетания значений основных электрических параметров для различных схемно-технологических вариантов изготовления при нормальных климатических условиях | |||
| ГОСТ 24613.0-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров | 01.01.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and opto-couples. General requirements at measuring of electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары.
Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения электрических параметров оптоэлектронных интегральных микросхем и оптопар и устанавливает общие положения для стандартов этого комплекса | |||
| ГОСТ 24613.1-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring of input-to-output capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения проходной емкости | |||
| ГОСТ 24613.2-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and opto-couples. Method for measuring leatage current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы оптопары и устанавливает метод измерения тока утечки | |||
| ГОСТ 24613.3-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and opto-couples. Method for measuring input voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения выходного напряжения | |||
| ГОСТ 24613.4-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Electronic integrated microcircuits. Method of switsching on and switching off time measurement of commutators of analog signals and load Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения времени включения и выключения | |||
| ГОСТ 24613.5-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method of zero remapend voltage measurement of commutators of analog signals and load Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения | |||
| ГОСТ 24613.6-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring of isolation voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения напряжения изоляции (постоянного или импульсного) | |||
| ГОСТ 24613.7-83 | Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивления | 01.07.1984 | действующий |
| Название (англ.): Resistor opto-couples. Method for measuring light and dark output resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на резисторные оптопары и устанавливает метод измерения светового и темнового выходного сопротивления | |||
| ГОСТ 24613.8-83 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции | 01.07.1984 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора | |||
| ГОСТ 24613.9-83 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров | 01.07.1984 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring switching times Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения.
Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары | |||
| ГОСТ 24613.10-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring noise current and noise voltage for low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней | |||
| ГОСТ 24613.11-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring input voltage for low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней | |||
| ГОСТ 24613.12-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output voltage for low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней | |||
| ГОСТ 24613.13-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов | 01.01.1979 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring short circuit of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного тока короткого замыкания | |||
| ГОСТ 24613.14-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов | 01.01.1979 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring consumption currents of low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения | |||
| ГОСТ 24613.15-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления, переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов | 01.01.1979 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring consumption carrent of switching and its duration of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока потребления переключения и длительности тока потребления переключения | |||
| ГОСТ 24613.16-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring initial residual voltage of analogue signal commutators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения начального остаточного напряжения | |||
| ГОСТ 24613.17-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output differential resistance of analogue signal commutators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения выходного дифференциального сопротивления | |||
| ГОСТ 24613.18-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции | 01.01.1979 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Methods for measuring isolation resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения сопротивления изоляции | |||
| ГОСТ 24613.19-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring current transfer ratio Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения коэффициента передачи тока | |||
| ГОСТ 26949-86 | Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения | 01.01.1988 | действующий |
| Название (англ.): Integrated microcircuits. Methods for measuring of electrical parameters of continuous voltage regulators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на непрерывные стабилизаторы напряжения и устанавливает методы измерения электрических параметров:
нестабильности по напряжению; нестабильности по току; коэффициента сглаживания пульсаций; температурного коэффициента напряжения; дрейфа выходного напряжения | |||
| ГОСТ 26975-86 | Микросборки. Термины и определения | 01.01.1989 | действующий |
| Название (англ.): Micro-assemblies. Terms and definitions Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области разработки, применения и изготовления микросборок.
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу действия стандартизации или использующих результаты этой деятельности | |||
| ГОСТ 27694-88 | Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров | 01.01.1990 | действующий |
| Название (англ.): Integrated circuits. Low-, intermediate- and high-frequency amplifiers. Methods for measuring electric parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров | |||
| ГОСТ 27780-88 | Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров | 01.01.1990 | действующий |
| Название (англ.): Integrated circurts. Multiplexers and switches. Methods for measurement of electric parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на микросхемы класса коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров микросхем | |||
| ГОСТ 28111-89 | Микросборки на цилиндрических магнитных доменах. Термины и определения | 01.07.1990 | действующий |
| Название (англ.): Bubble memory device. Terms and definitions Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области микросборок на цилиндрических магнитных доменах | |||
| ГОСТ 28623-90 | Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы | 01.01.1991 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor devices. Part 10. General specification for discrete devices and integrated circuits Область применения: Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем | |||
| ГОСТ 28814-90 | Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения | 01.07.1992 | действующий |
| Название (англ.): Integrated circuits. Methods of measuring electrical parameters of puls voltage regulators operation circuits Область применения: Настоящий стандарт распространяется на схемы управления импульсными стабилизаторами напряжения (СУ ИСН) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров СУ ИСН: время нарастания импульса коммутируемого тока время спада импульса коммутируемого тока | |||
| ГОСТ 29106-91 | Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения | 01.07.1992 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1. General Область применения: Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-1-84 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 1. Общие положения“и полностью ему соответствуют | |||
| ГОСТ 29107-91 | Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемы | 01.07.1992 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2. Digital integrated circuits Область применения: Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. Стандарт устанавливает требования для следующих классов и подклассов приборов: комбинаторные и последовательностные цифровые схемы; интегральные схемы запоминающих устройств; интегральные схемы микропроцессоров; приборы с переносом заряда.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-2-85 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2. Цифровые интегральные схемы“и полностью ему соответствует | |||
| ГОСТ 29108-91 | Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 3. Аналоговые интегральные схемы | 01.07.1992 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3. Analog integrated circuits Область применения: Настоящий стандарт устанавливает требования для следующих подклассов аналоговых интегральных схем:
операционных усилителей (с двумя входами и одним выходом); усилителей низкой частоты, видеоусилителей и многоканальных усилителей для дальней связи; усилителей высокой частоты и усилителей промежуточной частоты; стабилизаторов напряжения и тока; схем переключения аналоговых сигналов. Данный стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации | |||
