| Номер | Название | Дата введения | Статус |
| ГОСТ 14343-69 | Диоды полупроводниковые типов Д223, Д223А, Д223Б для устройств широкого применения | отменён | |
| Название (англ.): Semiconductors diodes types of Д 223, Д 223a, Д 223Б for widely used devices | |||
| ГОСТ 15606-70 | Диоды туннельные типов АИ301А, АИ301Б, АИ301В, АИ301 Г для устройств широкого применения | отменён | |
| Название (англ.): Tunnel diodes. Types aИ301a, aИ301, aИ301b, aИ301Г for widely used devices | |||
| ГОСТ 17465-80 | Диоды полупроводниковые. Основные параметры | 01.01.1982 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые полупроводниковые диоды, выпрямительные (кроме диодов Шоттки), импульсные, стабилитроны (стабисторы), варикапы, диоды СВЧ, выпрямительные столбы и импульсные диодные матрицы (сборки) | |||
| ГОСТ 18986.0-74 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | 01.01.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров | |||
| ГОСТ 18986.1-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки | |||
| ГОСТ 18986.3-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки | |||
| ГОСТ 18986.4-73 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод | |||
| ГОСТ 18986.5-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения | |||
| ГОСТ 18986.6-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления | |||
| ГОСТ 18986.7-73 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ | |||
| ГОСТ 18986.8-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления | |||
| ГОСТ 18986.9-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления | |||
| ГОСТ 18986.10-74 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности | 01.07.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн | |||
| ГОСТ 18986.11-84 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь | 01.07.1985 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов | |||
| ГОСТ 18986.12-74 | Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода | 01.07.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости | |||
| ГОСТ 18986.13-74 | Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | 01.07.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | |||
| ГОСТ 18986.14-85 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений | 01.07.1986 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод.
Стандарт не распространяется на стабилитроны | |||
| ГОСТ 18986.16-72 | Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока | 01.01.1974 | действующий |
| Название (англ.): Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока | |||
| ГОСТ 18986.18-73 | Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости | 01.07.1974 | действующий |
| Название (англ.): Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости | |||
| ГОСТ 18986.19-73 | Варикапы. Метод измерения добротности | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов | |||
| ГОСТ 18986.24-83 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения | 01.07.1984 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения | |||
| ГОСТ 19656.0-74 | Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | 01.07.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of electrical parameters. General conditions Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает общие положения при измерениях электрических параметров на сверхвысоких частотах | |||
| ГОСТ 19656.1-74 | Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению | 01.07.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor UHF mixer and detector diodes. Measurement method of voltage standing-wave ratio Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и детекторные и устанавливает метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц | |||
| ГОСТ 19656.2-74 | Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения выпрямленного тока | 01.07.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement method of rectified current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает метод измерения выпрямленного тока в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц | |||
| ГОСТ 19656.3-74 | Диоды полупрводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте | 01.07.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of output impedance at an intermediate frequency Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц следующие методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте:
метод сравнения; метод импедансного моста | |||
| ГОСТ 19656.4-74 | Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения потерь преобразования | 01.07.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of conversion losses Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц методы измерения потерь преобразования:
дифференциальный матод; метод амплитудной модуляции. Методы измерений потерь преобразований в диапазоне частот от 78,3 до 300 ГГц следует устанавливать в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов | |||
| ГОСТ 19656.5-74 | Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения | 01.07.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor UHF mixer and detector diodes. Measurement methods of output noise ratio Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и детекторные и устанавливает 2 метода измерения шумового отношения при возбуждении диода:
СВЧ мощностью (в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц); постоянным током | |||
| ГОСТ 19656.6-74 | Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения нормированного коэффициента шума | 01.07.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of standard overall noise figure Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц два метода измерения нормированного коэффициента шума Fнорм:
метод шумового генератора; метод определения Fнорм по измененным значениям потерь преобразования и шумового отношения | |||
| ГОСТ 19656.7-74 | Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току | 01.07.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor UHF detector diodes. Measurement method of current sensitivity Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ детекторные и устанавливает метод измерения чувствительности по току бета в рабочей точке в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц | |||
| ГОСТ 19656.9-79 | Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты | 01.01.1981 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor microwave varactors and multiplier diodes. Methods of measuring time constant and limiting frequency Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты:
метод четырехполюсника; метод последовательного резонанса диода; резонаторный метод. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере | |||
| ГОСТ 19656.10-88 | Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь | 01.07.1989 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor microwave switching and limiter diodes. Methods of measuring loss resistances Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые переключательные и ограничительные сверхвысокочастотные диоды и устанавливает следующие методы измерения сопротивлений потерь в диапазоне частот 0,3-10 ГГц:
1) сопротивления потерь при низком уровне СВЧ мощности ограничительных СВЧ диодов; 2) прямого сопротивления потерь переключательных и ограничительных СВЧ диодов и обратного сопротивления потерь переключательных СВЧ диодов: а) метод измерительной линии с подвижным зондом; б) метод измерительной линии с фиксированным зондом; в) резонаторный метод | |||
| ГОСТ 19656.12-76 | Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения полного входного сопротивления | 01.07.1977 | действующий |
| Название (англ.): Semicondactor UHF mixer diodes. Measurement method of input impedance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на смесительные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения полного входного сопротивления | |||
