| Номер | Название | Дата введения | Статус |
| ГОСТ 29109-91 | Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы | 01.07.1992 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 4. Interface integrated circuits Область применения: Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. В стандарте приведены требования для следующих классов и подклассов интерфейсных интегральных схем. Класс I: подкласс А - линейные схемы (передатчики и приемники); подкласс В - усилители считывания; подкласс С - периферийные формирователи (включая формирователи ЗУ) и схемы сдвига уровня; подкласс D - компараторы напряжения. Класс II линейные и нелинейные аналого-цифровые и цифроаналоговые преобразователи.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-4-87 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы“и полностью ему соответствует | |||
| ГОСТ 30350-96 | Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров | 01.07.1998 | действующий |
| Название (англ.): Analog integrated circuits. General requirements to apparatus and conditions for measurement of electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает общие требования к условиям измерения электрических параметров, а также требования безопасности к измерительной аппаратуре | |||
| ГОСТ Р 50044-92 | Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции | 01.07.1993 | действующий |
| Название (англ.): Integrated microcircuits and semiconductor device service mounted technology. Requirements to packages Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы (ИС) и полупроводниковые приборы (ПП), предназначенные для использования в технологии поверхностного монтажа, и устанавливает требования к их перспективным конструкциям и выбору унифицированных размеров.
Стандарт является обязательным документом при разработке изделий для поверхностного монтажа, обеспечивающих выполнение требований автоматизированной сборки аппаратуры | |||
| ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 | Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем | 01.07.2002 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits Область применения: Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов | |||
