| Номер | Название | Дата введения | Статус |
| ГОСТ 18986.0-74 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | 01.01.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров | |||
| ГОСТ 18986.1-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки | |||
| ГОСТ 18986.3-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки | |||
| ГОСТ 18986.4-73 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод | |||
| ГОСТ 18986.5-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения | |||
| ГОСТ 18986.6-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления | |||
| ГОСТ 18986.7-73 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ | |||
| ГОСТ 18986.8-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления | |||
| ГОСТ 18986.9-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления | |||
| ГОСТ 18986.10-74 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности | 01.07.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн | |||
| ГОСТ 18986.11-84 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь | 01.07.1985 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов | |||
| ГОСТ 18986.12-74 | Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода | 01.07.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости | |||
| ГОСТ 18986.13-74 | Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | 01.07.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | |||
| ГОСТ 18986.14-85 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений | 01.07.1986 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод.
Стандарт не распространяется на стабилитроны | |||
| ГОСТ 18986.15-75 | Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации | 01.01.1977 | действующий |
| Название (англ.): Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации | |||
| ГОСТ 18986.16-72 | Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока | 01.01.1974 | действующий |
| Название (англ.): Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока | |||
| ГОСТ 18986.17-73 | Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации | 01.07.1974 | действующий |
| Название (англ.): Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации | |||
| ГОСТ 18986.18-73 | Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости | 01.07.1974 | действующий |
| Название (англ.): Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости | |||
| ГОСТ 18986.19-73 | Варикапы. Метод измерения добротности | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов | |||
| ГОСТ 18986.20-77 | Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим | 01.01.1979 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности | |||
| ГОСТ 18986.21-78 | Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации | 01.01.1980 | действующий |
| Название (англ.): Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации | |||
| ГОСТ 18986.22-78 | Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления | 01.01.1980 | действующий |
| Название (англ.): Reference diodes. Methods for measuring differential resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе | |||
| ГОСТ 18986.23-80 | Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума | 01.01.1982 | действующий |
| Название (англ.): Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:
метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц; метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц | |||
| ГОСТ 18986.24-83 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения | 01.07.1984 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения | |||
| ГОСТ 19138.0-85 | Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров | 01.01.1987 | действующий |
| Название (англ.): Thyristors. General requirements for methods of measuring parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает общие требования к методам измерения параметров.
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры | |||
| ГОСТ 19138.1-85 | Тиристоры. Метод измерения напряжения переключения | 01.01.1987 | действующий |
| Название (англ.): Thyristors. Method for measuring switching voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает метод измерения напряжения переключения.
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры | |||
| ГОСТ 19138.2-85 | Тиристоры триодные. Метод измерения отпирающего постоянного и импульсного тока управления и отпирающего постоянного и импульсного напряжения управления | 01.01.1987 | действующий |
| Название (англ.): Triode thyristors. Method for measuring trigger direct and peak gate current and trigger direct and peak gate voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения отпирающего постоянного и импульсного тока управления и отпирающего постоянного и импульсного напряжения управления
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры | |||
| ГОСТ 19138.3-85 | Тиристоры триодные. Метод измерения времени выключения | 01.01.1987 | действующий |
| Название (англ.): Triode thyristors. Method for measuring turn-off time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения времени выключения.
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры | |||
| ГОСТ 19138.4-73 | Тиристоры. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки | 01.07.1975 | действующий |
| Название (англ.): Thyristors. Method for measuring turn-on, rise and delay times Область применения: Настоящий стандарт распространяется на диодные тиристоры малой и средней мощности с максимально допустимым постоянным током в открытом состоянии не более 10 А и устанавливает метод измерения времени включения, нарастания и задержки | |||
| ГОСТ 19138.5-85 | Тиристоры триодные. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки | 01.01.1987 | действующий |
| Название (англ.): Triode thyristors. Method for measuring turn-on, rise and delay time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения времени включения, нарастания и задержки.
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры | |||
| ГОСТ 19138.6-86 | Тиристоры. Методы измерения электрических параметров | 01.07.1987 | действующий |
| Название (англ.): Thyristors. Methods for measuring electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает методы измерения:
критической скорости нарастания напряжения в закрытом состоянии; тока удержания и тока включения; постоянного и повторяющегося импульсного тока в закрытом состоянии, постоянного и повторяющегося импульсного обратного тока; постоянного и импульсного напряжения в открытом состоянии; неотпирающего постоянного и импульсного напряжения управления триодных тиристоров. Стандарт не распространяется на силовые тиристоры | |||
| ГОСТ 19138.7-74 | Тиристоры. Метод измерения импульсного запирающего тока управления, импульсного запирающего напряжения управления, импульсного коэффициента запирания | 01.07.1975 | действующий |
| Название (англ.): Thyristors. Measurement method of peak gate turn-off current, peak gate turn-off voltage, peak turn-off coefficient Область применения: Настоящий стандарт распространяется на триодные запираемые тиристоры малой и средней мощности с максимально допустимым постоянным током в открытом состоянии не более 10 А и устанавливает метод измерения импульсного запирающего тока управления импульсного запирающего напряжения управления тиристора и импульсного коэффициента запирания | |||
