| Номер | Название | Дата введения | Статус |
| ГОСТ 18720.13-77 | Трубки телевизионные передающие. Метод определения показателя гамма световой характеристики | заменён | |
| Название (англ.): Television camera tubes. Methods of plotting index gamma of light characteristic | |||
| ГОСТ 18720.14-77 | Трубки телевизионные передающие. Метод определения контрастной чувствительности | заменён | |
| Название (англ.): Television camera tubes. Methods of plotting for contrast sensitivity | |||
| ГОСТ 18720.15-77 | Трубки телевизионные передающие. Метод измерения времени готовности | заменён | |
| Название (англ.): Television camera tubes. Method of measuring for readiness time | |||
| ГОСТ 18720.16-85 | Трубки телевизионные передающие. Метод измерения запирающего напряжения и напряжения модуляции | заменён | |
| Название (англ.): Television camera tubes. Methods of measuring ent-off voltage and modulation voltage | |||
| ГОСТ 18720.17-85 | Трубки телевизионные передающие. Метод определения качества фона изображения | заменён | |
| Название (англ.): Television camera tubes. Determination of background quality | |||
| ГОСТ 18720.18-85 | Трубки телевизионные передающие. Метод измерения сопротивления изоляции и токов утечки между электродами | заменён | |
| Название (англ.): Television camera tubes. Methods of measuring insulation resistance and leakage cuvvent between electrodes | |||
| ГОСТ 18720-90 | Трубки телевизионные передающие. Методы измерения параметров | 01.07.1991 | действующий |
| Название (англ.): Television camera tubes. Methods of measuring for parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на передающие телевизионные трубки, предназначенные для работы в телевизионных системах, и устанавливает методы измерения следующих параметров и характеристик: тока сигнала; световой чувствительности; разрешающей способности; глубины модуляции сигнала; геометрических искажений изображения; спектральной чувствительности; световой характеристики и показателя гамма; неравномерности сигнала по полю изображения; инерционности; темнового тока и его неравномерности; неравномерности белого и темного фона; отношения сигнал/шум; контрастной чувствительности; послеизображения; времени готовности; запирающего напряжения и напряжения модуляции; качества фона изображения; сопротивления изоляции и токов утечки между электродами | |||
| ГОСТ 18725-83 | Микросхемы интегральные. Общие технические условия | 01.01.1985 | действующий |
| Название (англ.): Integrated circuits. General specifications Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы производственно-технического назначения и народного потребления, изготовляемые для народного хозяйства и экспорта, используемые в электронной аппаратуре в качестве элементов монтажа.
Стандарт не распространяется на бескорпусные микросхемы | |||
| ГОСТ 18862-73 | Кинескопы для черно-белого телевидения. Метод измерения контраста | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Kinescopes for black-and-white television. Method of contrast measurement Область применения: Настоящий стандарт распространяется на кинескопы для черно-белого телевидения и устанавливает метод измерения контраста экрана кинескопа путем измерения яркости свечения смежных белых и черных полей воспроизводимого изображения в виде шахматного поля | |||
| ГОСТ 18933-73 | Трубки электроннолучевые приемные (кинескопы). Методы испытания на взрывобезопасность | 01.07.1974 | действующий |
| Название (англ.): Picture tubes (kinescopes). Explosion proof test methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на взрывобезопасные кинескопы с диагональю экрана более 16 см, предназначенные для широковещательного черно-белого и цветного телевидения и устанавливает следующие методы испытания на взрывобезопасность кинескопов: термоударом и механическим ударом, и критерии оценки эффективности взрывозащиты. Стандарт полностью соответствует СТ СЭВ 1618-79 и Публикации МЭК 65 | |||
| ГОСТ 18986.0-74 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | 01.01.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров | |||
| ГОСТ 18986.1-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки | |||
| ГОСТ 18986.3-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки | |||
| ГОСТ 18986.4-73 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод | |||
| ГОСТ 18986.5-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring transition time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения | |||
| ГОСТ 18986.6-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления | |||
| ГОСТ 18986.7-73 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring life time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ | |||
| ГОСТ 18986.8-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления | |||
| ГОСТ 18986.9-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления | |||
| ГОСТ 18986.10-74 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности | 01.07.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн | |||
| ГОСТ 18986.11-84 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь | 01.07.1985 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов | |||
| ГОСТ 18986.12-74 | Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода | 01.07.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости | |||
| ГОСТ 18986.13-74 | Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | 01.07.1976 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | |||
| ГОСТ 18986.14-85 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений | 01.07.1986 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод.
Стандарт не распространяется на стабилитроны | |||
| ГОСТ 18986.15-75 | Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации | 01.01.1977 | действующий |
| Название (англ.): Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения напряжения стабилизации | |||
| ГОСТ 18986.16-72 | Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока | 01.01.1974 | действующий |
| Название (англ.): Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока | |||
| ГОСТ 18986.17-73 | Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации | 01.07.1974 | действующий |
| Название (англ.): Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации | |||
| ГОСТ 18986.18-73 | Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости | 01.07.1974 | действующий |
| Название (англ.): Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости | |||
| ГОСТ 18986.19-73 | Варикапы. Метод измерения добротности | 01.01.1975 | действующий |
| Название (англ.): Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor Область применения: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов | |||
| ГОСТ 18986.20-77 | Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим | 01.01.1979 | действующий |
| Название (англ.): Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности | |||
| ГОСТ 18986.21-78 | Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации | 01.01.1980 | действующий |
| Название (англ.): Reference diodes and stabistors. Method for measuring time drift of working voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации | |||
| ГОСТ 18986.22-78 | Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления | 01.01.1980 | действующий |
| Название (англ.): Reference diodes. Methods for measuring differential resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе | |||
