Каталог государственных стандартов




[1] 2 3 (найдено 68 объектов)

НомерНазвание Дата введенияСтатус
ГОСТ 4.465-87 Система показателей качества продукции. Микросхемы интегральные. Номенклатура показателей01.01.1988действующий
Название (англ.): Product-quality index system. Integratet circuits. Index nomenclature Область применения: Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества интегральных микросхем, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив развития этой группы, государственный стандарт с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ)
ГОСТ 17021-88 Микросхемы интегральные. Термины и определения01.01.1990действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Terms and definitions Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий интегральных микросхем. Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу деятельности по стандартизации или использующих результаты этой деятельности
ГОСТ 17230-71 Микросхемы интегральные. Ряд питающих напряжений01.07.1972действующий
Название (англ.): Integrated microcircuits. Supply voltage range Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы, работающие при номинальных значениях питающих напряжений до 200 В, и устанавливает номинальные значения питающих напряжений, а также допускаемые отклонения питающих напряжений от номинальных значений.
Стандарт не распространяется на интегральные микросхемы, работающие в широком диапазоне питающих напряжений (охватывающих 2 или более номинальных напряжений)
ГОСТ 17447-72 Микросхемы интегральные для цифровых вычислительных машин и устройств дискретной автоматики. Основные параметры01.01.1973действующий
Название (англ.): Integrated circuits for digital computers and discrete automatic systems. Basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые интегральные микросхемы первой и второй степеней интеграции для цифровых вычислительных машин, устройств дискретной радиоэлектронной аппаратуры и автоматики и устанавливает ряд и допускаемые сочетания значений основных параметров
ГОСТ 17467-88 Микросхемы интегральные. Основные размеры01.01.1990действующий
Название (англ.): Integrated microcircuits. Basic dimentions Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы в корпусах и устанавливает их габаритные и присоединительные размеры.
Стандарт не распространяется на микросхемы СВЧ диапазона
ГОСТ 18683.0-83 Микросхемы интегральные цифровые. Общие требования при измерении электрических параметров01.01.1984действующий
Название (англ.): Digital integrated circuits. General requirements for measuring electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы (микросхемы) и устанавливает общие требования при измерении электрических параметров микросхем.
ГОСТ 18683.1-83 Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статистических электрических параметров01.01.1984действующий
Название (англ.): Digital integrated circuits. Methods for measuring static electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы и устанавливает методы измерения статических электрических параметров микросхем
ГОСТ 18683.2-83 Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров01.01.1984действующий
Название (англ.): Digital integrated cirсuits. Methods of measuring dynamic electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы и устанавливает методы измерения динамических электрических параметров микросхем
ГОСТ 18725-83 Микросхемы интегральные. Общие технические условия01.01.1985действующий
Название (англ.): Integrated circuits. General specifications Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы производственно-технического назначения и народного потребления, изготовляемые для народного хозяйства и экспорта, используемые в электронной аппаратуре в качестве элементов монтажа.
Стандарт не распространяется на бескорпусные микросхемы
ГОСТ 19480-89 Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров01.01.1991действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Terms, definitions and letter symbols of electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт устанавливает термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров интегральных микросхем.
Термины и буквенные обозначения, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу работ по стандартизации или использующих результаты этих работ.
Международные буквенные обозначения обязательны для применения в технической документации, предназначенной для экспортных поставок
ГОСТ 19799-74 Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик01.01.1976действующий
Название (англ.): Analog integrated circuits. Methods for measurement of electric parameters and determination of responses Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает методы измерения электрических параметров и определения характеристик. Стандарт не распространяется на коммутаторы и ключи, на компараторы напряжения в части методов 1580, 1581, 2500, 2501 и операционные усилители
ГОСТ 20281-74 Микромодули этажерочной конструкции. Методы измерения электрических параметров01.01.1976действующий
Название (англ.): Micromodules of stacked and spaced construction. Measuring methods of electrical characteristics Область применения: Настоящий стандарт распространяется на микромодули этажерочной конструкции и устанавливает методы измерения электрических параметров микромодулей.
Настоящий стандарт не распространяется на микромодули, представляющие собой сборки микроэлементов и имеющие электрические параметры, свойственные микроэлементам
ГОСТ 23070-78 Анализ и оптимизация на ЭВМ радиоэлектронных схем. Термины и определения01.01.1979действующий
Название (англ.): Computerized circuits analysis and optimization. Terms and definitions Область применения: Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области автоматизированного проектирования электронных схем
ГОСТ 23089.0-78 Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения01.07.1979действующий
Название (англ.): Integrated circuits. General requirements at measuring electrical parameters of operational amplifiers and voltage comparators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров
ГОСТ 23089.1-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента усиления операционных усилителей и компараторов напряжения01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators gain Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает метод измерения коэффициента усиления
ГОСТ 23089.2-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителей01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers maximum output voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения максимального выходного напряжения
ГОСТ 23089.3-83 Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и э.д.с cмещения нуля опреционных усилителей и компараторов напряжения01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Methods of measuring the operational amplifiers and voltage comparators zero offset voltage and emf Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает два метода измерения напряжения смещения нуля Uсм и э.д.с. смещения нуля Eсм:
метод 1 - метод балансировки вспомогательным устройством;
метод 2 - метод с приведением напряжения на инвертирующем входе и нулю
ГОСТ 23089.4-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения входных токов и разности входных токов операционных усилителей и компараторов напряжения01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated cirсuits. Method of measuring the input currents and input bias current of operational amplifiers and voltage comparators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает метод измерения входных токов, среднего входного тока и разности входных токов
ГОСТ 23089.5-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилителей и компараторов напряжения01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers and voltage comparators consumption current and power Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и компараторы напряжения и устанавливает метод измерения тока потребления и потребляемой мощности
ГОСТ 23089.6-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителей01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage settling time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения времени установления выходного напряжения
ГОСТ 23089.7-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля
ГОСТ 23089.8-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с
ГОСТ 23089.9-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов
ГОСТ 23089.10-83 Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage maximum build-up rate and time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения
ГОСТ 23089.11-83 Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабление синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения01.01.1984действующий
Название (англ.): Integrated circuits. Methods of measuring the operational amplifiers and voltage comparators input common mode voltage rejection ratio Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители (ОУ) и компараторы напряжения (КН) и устанавливает методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений:
1 - метод с подачей синфазных входных напряжений на входы проверяемого ОУ или КН через резистивный мост;
2 - метод с подачей синфазных входных напряжений посредством изменения напряжения питания
ГОСТ 23089.12-86 Микросхемы интегральные. Методы измерения шумовых параметров операционных усилителей01.07.1987действующий
Название (англ.): Intergated microcircuits. Methods for measuring noise parameters of operational amplifiers Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения:
нормированной э.д.с. шума и нормированного тока шума;
рахмаха шума
ГОСТ 23089.13-86 Микросхемы интегральные. Методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей01.01.1988действующий
Название (англ.): Integrated microcircuits. Measurement methods of the operational amplifiers cut-off frequency and unitary-gain frequency Область применения: Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления:
метод 1 - измерение частоты среза с плавным изменением частоты входного сигнала; метод 2 - измерение частоты единичного усиления на фиксированной частоте
ГОСТ 23089.14-88 Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения01.07.1989действующий
Название (англ.): Integrated microcircuits. Methods for measuring delay time of the switching on/off the voltage comparators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на компараторы напряжения (КН) с двухполярным питанием и устанавливает два метода измерения времени задержки включения и выключения;
метод 1 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, отличном от 0 В. Метод рекомендуется применять в качестве основного для измерения параметров КН с временем задержки, превышающим или равным 20 нс;
метод 2 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, равном 0 В. Метод рекомендуется применять для измерения параметров КН с временем задержки, не превышающим 20 нс и в технически обоснованных случаях для остальных КН
ГОСТ 23089.15-90 Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителей01.07.1991действующий
Название (англ.): Integrated microcircuits. Method of measuring full power frequency of operational amplifiers Область применения: Настоящий стандарт устанавливает метод измерения частоты полной мощности опереционных усилителей
ГОСТ 23089.16-90 Микросхемы интегральные. Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей01.07.1991действующий
Название (англ.): Integrated microcircuits. Method of measuring phase stability margin of operational amplifiers Область применения: Настоящий стандарт устанавливает метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей
ГОСТ 23089.17-90 Микросхемы интегральные. Методы измерения входного и выходного сопротивлений операционных усилителей01.07.1991действующий
Название (англ.): Integrated microcircuits. Methods of measuring input and output resistances of operational amplifiers Область применения: Настоящий стандарт устанавливает методы измерения входного (дифференциального) сопротивления и выходного сопротивления операционных усилителей
ГОСТ 23622-79 Элементы логические интегральных микросхем. Основные параметры01.01.1981действующий
Название (англ.): Logic elements of integrated circuits. Basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на логические элементы интегральных микросхем, предназначенные для цифровых вычислительных машин, устройств дискретной автоматики, и устанавливает допустимые сочетания значений среднего времени задержки распространения сигнала и средней потребляемой мощности в статическом режиме

[1] 2 3 (найдено 68 объектов)