| Номер | Название | Дата введения | Статус |
| ГОСТ 24613.0-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров | 01.01.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and opto-couples. General requirements at measuring of electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары.
Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения электрических параметров оптоэлектронных интегральных микросхем и оптопар и устанавливает общие положения для стандартов этого комплекса | |||
| ГОСТ 24613.1-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring of input-to-output capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения проходной емкости | |||
| ГОСТ 24613.2-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and opto-couples. Method for measuring leatage current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы оптопары и устанавливает метод измерения тока утечки | |||
| ГОСТ 24613.3-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and opto-couples. Method for measuring input voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения выходного напряжения | |||
| ГОСТ 24613.4-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Electronic integrated microcircuits. Method of switsching on and switching off time measurement of commutators of analog signals and load Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения времени включения и выключения | |||
| ГОСТ 24613.5-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method of zero remapend voltage measurement of commutators of analog signals and load Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения | |||
| ГОСТ 24613.6-81 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring of isolation voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения напряжения изоляции (постоянного или импульсного) | |||
| ГОСТ 24613.7-83 | Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивления | 01.07.1984 | действующий |
| Название (англ.): Resistor opto-couples. Method for measuring light and dark output resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на резисторные оптопары и устанавливает метод измерения светового и темнового выходного сопротивления | |||
| ГОСТ 24613.8-83 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции | 01.07.1984 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора | |||
| ГОСТ 24613.9-83 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров | 01.07.1984 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring switching times Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения.
Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары | |||
| ГОСТ 24613.10-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring noise current and noise voltage for low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней | |||
| ГОСТ 24613.11-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring input voltage for low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней | |||
| ГОСТ 24613.12-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output voltage for low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней | |||
| ГОСТ 24613.13-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов | 01.01.1979 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring short circuit of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного тока короткого замыкания | |||
| ГОСТ 24613.14-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов | 01.01.1979 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring consumption currents of low and high levels of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения | |||
| ГОСТ 24613.15-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления, переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов | 01.01.1979 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring consumption carrent of switching and its duration of logic signal switches Область применения: Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока потребления переключения и длительности тока потребления переключения | |||
| ГОСТ 24613.16-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring initial residual voltage of analogue signal commutators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения начального остаточного напряжения | |||
| ГОСТ 24613.17-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output differential resistance of analogue signal commutators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения выходного дифференциального сопротивления | |||
| ГОСТ 24613.18-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции | 01.01.1979 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Methods for measuring isolation resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения сопротивления изоляции | |||
| ГОСТ 24613.19-77 | Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току | 01.07.1978 | действующий |
| Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring current transfer ratio Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения коэффициента передачи тока | |||
| ГОСТ 24686-81 | Оборудование для производства изделий электронной техники и электротехники. Общие технические требования. Маркировка, упаковка, транспортирование и хранение | 01.01.1982 | действующий |
| Название (англ.): Equipment for manufacture of electronic and electrical products. General technical requirements. Marking, packing, transportation and preservation Область применения: Настоящий стандарт распространяется на технологическое оборудование для производства изделий электронной техники и электротехники, изготовляемое для нужд народного хозяйства и экспорта | |||
| ГОСТ 24714-81 | Лазеры. Методы измерения параметров излучения. Общие положения | 01.07.1982 | утратил силу в РФ |
| Название (англ.): Lasers. The measurement methods of radiation parameters. General rules Область применения: Настоящий стандарт распространяется на методы измерений параметров излучения газовых, полупроводниковых, твердотельных и жидкостных лазеров импульсного и непрерывного режима работы и излучатели к ним | |||
| ГОСТ 24891-81 | Индикаторы знакосинтезирующие газоразрядные. Основные параметры | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Plasma signal produce displays. Basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на газоразрядные матричные знакосинтезирующие индикаторы переменного тока, с самосканированием, постоянного тока и устанавливает ряды значений основных параметров, их допустимые сочетания | |||
| ГОСТ 24927-81 | Изделия электронной техники. Общие требования к временной противокоррозионной защите и методы испытаний | 01.07.1982 | действующий |
| Название (англ.): Electronic products. General requirements to the temporary corrosion protection and test methods Область применения: Настоящий стандарт распространяется на изделия электронной техники и устанавливает общие требования к выбору и применению средств временной противокоррозионной защиты изделий от атмосферной коррозии при длительном хранении на складах заказчика, при поставке в страны с тропическим климатом, при транспортировании морским путем, а также методы ускоренных испытаний средств временной защиты | |||
| ГОСТ 25024.0-83 | Индикаторы знакосинтезирующие. Общие требования при измерении параметров | 01.07.1984 | действующий |
| Название (англ.): Signal produce displays. General requirements to parameter measurement Область применения: Настоящий стандарт распространяется на знакосинтезирующие индикаторы: вакуумные накаливаемые, вакуумные люминесцентные, электролюминесцентные, газоразрядные, полупроводниковые и жидкокристаллические.
Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров индикаторов и устанавливает требования, общие для методов измерения их светотехнических, электрических, других параметров и характеристик | |||
| ГОСТ 25024.1-81 | Индикаторы знакосинтезирующие. Методы измерения времени готовности | 01.01.1983 | действующий |
| Название (англ.): Signal produce displays. Methods of response time measuring Область применения: Настоящий стандарт распространяется на вакуумные люминесцентные и накаливаемые знакосинтезирующие индикаторы, а также на газораазрядные матричные знакосинтезирующие индикаторы и устанавливает методы измерения их времени готовности | |||
| ГОСТ 25024.2-83 | Индикаторы знакосинтезирующие. Методы измерения времени реакции и времени релаксации | 01.01.1985 | действующий |
| Название (англ.): Signal produce displays. Measuring methods of response and relaxation time Область применения: Настоящий стандарт распространяется на пассивные знакосинтезирующие индиаторы и устанавливает методы измерения времени реакции и времени релаксации в диапазоне до 10 град. С | |||
| ГОСТ 25024.3-83 | Индикаторы знакосинтезирующие. Методы измерения тока и напряжения | 01.01.1985 | действующий |
| Название (англ.): Signal produce displays. Measuring methods of current and voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на знакосинтезирующие полупроводниковые, электролюминесцентные и жидкокристаллические индикаторы и устанавливает методы измерения тока и напряжения | |||
| ГОСТ 25024.4-85 | Индикаторы знакосинтезирующие. Методы измерения яркости, силы света, неравномерности яркости и неравномерности силы света | 01.07.1986 | действующий |
| Название (англ.): Character displays. Methods measuring brightness, luminous intensity, irregularity of brightness and irregularity of luminous intensity Область применения: Настоящий стандарт распространяется на активные знакосинтезирующие индикаторы и устанавливает следующие методы измерения яркости и силы света: метод, основанный на измерении освещенности, создаваемой излучением индикатора (элемента отображения); метод основанный на измерении освещенности, создаваемой оптическим изображением индикатора (элемента отображения); метод, основанный на замещении индикатора (элемента отображения) образцовым, а также метод измерения неравномерности яркости и неравномерности силы света | |||
| ГОСТ 25024.5-87 | Индикаторы знакосинтезирующие. Методы измерения собственного яркостного контраста и неравномерности собственного яркостного контраста | 01.07.1988 | действующий |
| Название (англ.): Character displays. Methods of measuring inherent brightness contrast and irregularity of inherent brightness contrast Область применения: Настоящий стандарт распространяется на знакосинтезирующие индикаторы и устанавливает методы измерения собственного яркостного контраста индикатора (элемента отображения информации знакосинтезирующего индикатора), неравномерности собственного яркостного контраста индикатора, основанные на измерении фотоэлектрическим методом яркости индикатора (элемента отображения) и яркости собственного фона индикатора с последующим определением собственного яркостного контраста индикатора (элемента отображения) и неравномерности собственного яркостного контраста индикатора | |||
| ГОСТ 25024.6-88 | Индикаторы знакосинтезирующие газоразрядные матричные. Методы измерения электрических параметров | 01.01.1990 | действующий |
| Название (англ.): Gas-discharge matrix sign synthesizing indicators. Methods of measuring electric parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на газоразрядные матричные знакосинтезирующие индикаторы переменного тока, постоянного тока и самосканированием, предназначенные для отображения буквенно-цифровой и графической информации, и устанавливает методы измерения и контроля следующих электрических параметров: опорного напряжения индикации; напряжения питания анодов при возникновения и прекращения свечения элементов отображения; времени запаздывания возникновения разряда; минимального и максимального напряжения анодов сканирования; диапазона изменения опорного напряжения индикации | |||
| ГОСТ 25024.7-90 | Индикаторы знакосинтезирующие. Методы измерения спектральных характеристик и координат цветности | 01.01.1992 | действующий |
| Название (англ.): Character displays. Methods of measuring spectral characteristics and chromaticity coordinates Область применения: Настоящий стандарт распространяется на знакосинтезирующие индикаторы полупроводниковые, вакуумные люминесцентные, вакуумные накаливаемые, электролюминесцентные, газоразрядные, жидкокристаллические и устанавливает следующие методы измерения: относительного спектрального распределения энергии излучения; ширины спектра излучения; координат цветности | |||
